電子元器件的可靠性基礎試驗

 
電子元器件的可靠性基礎試驗
概 述
可靠性試驗的范圍非常廣泛。從廣義上說，凡是與可靠性有關的試驗都可以稱為可 靠性試驗。也可以說，為評價、分析電子元器件的可靠性而進行的試驗稱為電子元器件的 可靠性試驗。可靠性試驗的目的是考核電子元器件在運輸、使用等情況下的可靠性。試 驗條件必須是模擬電子元器件在運輸、使用時的客觀條件，它就是對受試樣品施加一定的 應力，諸如電氣應力、氣候應力、機械應力或其綜合，在這些應力的作用下，受試樣品反映 出其性能是否穩定，其結構狀態是否完整或是否有變形，從而判別其產品是否失效。第2 章介紹的電子元器件常用的可靠性試驗是為完成特定的試驗目的而進行的一整套試驗。 當時我們的重點在于介紹這一整套試驗，對于這套試驗中的各個具體試驗沒有詳細介紹。
組成各種可靠性試驗的最基本的試驗叫做可靠性基礎試驗，如高溫試驗，振動掃頻試 驗等，它們是獨立的試驗，它們的不同組合便構成不同的可靠性試驗。